L'innovazione di Entrepix migliora l'affidabilità di Reflexion® LK Prime
Kristen Mattson Kristen Mattson

L'innovazione di Entrepix migliora l'affidabilità di Reflexion® LK Prime

Entrepix è lieta di presentare il suo ultimo prodotto, la flessione cardanica del condizionatore del pad LK Prime. Progettata per ridurre i tempi di fermo dei sistemi CMP Applied Materials Reflexion LK Prime, questa flessione cardanica condizionatrice migliorata riduce le rotture grazie a una geometria ottimizzata e a materiali di costruzione superiori. I vantaggi offerti da questa flessione cardanica del condizionatore LK Prime migliorata iniziano con la riduzione dei costi e si estendono a più dimensioni di affidabilità, tra cui la riduzione dei tempi di fermo e degli scarti di wafer causati da guasti imprevisti.  

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Test di sostituzione del film della testa portante CMP - Semiconductor Digest
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Test di sostituzione del film della testa portante CMP - Semiconductor Digest

La scelta dei film di supporto per wafer carrier rigidi back-plate può influenzare in modo significativo la qualità e la resa del prodotto finale a semiconduttori. Con l'interruzione dei film Pureon DF200, abbiamo valutato tre possibili prodotti sostitutivi e confrontato i risultati su diversi fattori, tra cui il tasso di rimozione medio, l'intervallo medio indotto, il WIWNU% medio e il WTWRR%.

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Entrepix, Inc. Presenta il nuovo tester per teste Entegrity
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Entrepix, Inc. Presenta il nuovo tester per teste Entegrity

Entrepix, Inc., esperta riconosciuta a livello mondiale di CMP e pulizia dei wafer, e filiale di Amtech Systems, Inc. è lieta di presentare il suo ultimo prodotto, il tester per teste Entegrity. Progettato per ridurre i tempi di inattività dei sistemi CMP, il tester per teste Entegrity offre ai clienti la possibilità di controllare la resa e garantire prestazioni ottimali.

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